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奧普光電：高精尺年內可完成內部測試驗證 明年開始可與外部進行適配

2023-12-16 15:59:23

每經AI快訊，奧普光電12月16日在互動平臺表示，超精尺的研發(fā)周期視使用需求及技術積累情況而定，一般研發(fā)周期較長。光柵尺是半導體設備的核心部件，其精度要求取決于整機的技術指標需求。高精尺年內可完成內部測試驗證，明年開始可與外部進行適配。

責編 王瀚黎

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